半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀 型號：CH-WSP-6
CH-WSP-6型半導體電阻率測試儀是用于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是生產廠家硅料分選測試的理想具。
1、 主要術標:
電源：220V交流
可測晶片直徑（*）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：電流量程為0.01～1mA連續可調，誤差≦±0.5%。
數字電壓表：量程：0.1～200mV,*分辨率：100μV
電阻率顯示：三位半數字顯示：小數點、性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米
輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
測量精度：±0.1。
*電阻測量誤差（按JJG508-87行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數±2個字。
重摻檢測誤差（JJG508-87行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%
測量環境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%
2、操作程序：
1、連好電源，打開后面板電源開關，電源示燈亮，表示待機畢。
2、校準設備：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的標準樣塊校準電阻率測試儀
3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數字穩定即可，
4校驗：在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準次設備，
3、 針組件;維護及注意事項:
1、般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔作
2、維護后的安裝及維護過程中,須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列