BZ-X-3680是種體現(xiàn)X射線熒光分析術(shù)*新展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導(dǎo)體探測(cè)器為探測(cè)單元，再加上我公司門(mén)開(kāi)發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各件的優(yōu)異性能，保證了整臺(tái)儀器的分辨率及通用適應(yīng)性。何需要多元素同時(shí)分析的地方，正是它大有作為之處。
儀器檢測(cè)能力強(qiáng)，分辨率，適用于各行業(yè)對(duì)不同元素行無(wú)損檢測(cè)。在不同作環(huán)境下分析范圍從Al（13號(hào)元素）到U（92號(hào)元素）。無(wú)損分析迅速，無(wú)需制樣，測(cè)試時(shí)間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測(cè)精度從PPM別到千分之別。
強(qiáng)勢(shì)能
1. 基本參數(shù)法對(duì)從鋁（13號(hào)元素）至鈾（92號(hào)元素）定性分析測(cè)量。
2．包裹樣品檢測(cè)辨別系統(tǒng)。
3．樣品室清成像定位系統(tǒng)，方便微小樣品定位測(cè)量。
4．電制冷與內(nèi)雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合，維持內(nèi)作環(huán)境穩(wěn)定。
5. 內(nèi)動(dòng)力學(xué)風(fēng)道*，快速排出多余熱量。
6．雙峰位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。
7．雙箱體結(jié)構(gòu)，抗干擾能力強(qiáng)且方便硬件升。
8．儀器作方法意開(kāi)發(fā)。
9. 定量分析：包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。
10.定性分析：包括Kl譜線標(biāo)記法，譜圖法，光標(biāo)自動(dòng)尋峰等。
11.測(cè)試報(bào)表根據(jù)客戶(hù)要求立*。
12.溫度系數(shù)：溫度變化1度，電壓變化不過(guò)0.01%
13.穩(wěn)定性：經(jīng)過(guò)半個(gè)小時(shí)預(yù)熱后，每8小時(shí)變化不過(guò)0.05%
14.準(zhǔn)直器：使用殊的濾波片自動(dòng)更換，提能區(qū)的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發(fā)的多能數(shù)字集成新型放大器，提降噪比。
整機(jī)術(shù)規(guī)格
1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm
2. 可測(cè)試樣品大小：關(guān)倉(cāng)測(cè)量：220mm×200mm×150mm
開(kāi)倉(cāng)測(cè)量：無(wú)限大
3. 儀器重量：50公斤
4．作環(huán)境溫度：0——35℃
5. 作環(huán)境相對(duì)濕度：≤80%
6. 元素分析范圍：鋁（Al）——鈾（U）
7. 含量分析范圍：1PPM——99.999%
8．測(cè)量時(shí)間:10——180秒可調(diào)
9. 激發(fā)源：低率X射線管
10．壓電源：美Spellman原裝口壓電源
11．探測(cè)器：美Amptek原裝口電制冷Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器
12. 儀器分辨率：55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優(yōu)于149eV
13．多道分析器：2048道
14．軟件：基于WINDOWS的強(qiáng)大作軟件
15. 客戶(hù)可行二次開(kāi)發(fā)，自行開(kāi)發(fā)意多個(gè)分析方法
16．作電源：交流 220V 50Hz