X熒光光譜儀    型號；HY-EDX600

HY- EDX600貴金屬檢測儀使用效而實用的正比計數盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且新的更具有現代感的外形、結構及色彩*，使儀器操作更人性化、更方便。

性能點

業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。

**貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。

術標

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達：1ppm。
分析含量般為：1ppm到99.9％。
多次測量重復性可達：0.1％。
長期作穩定性為：0.1％。

標準配置

單樣品腔。

正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
低壓電源。
X光管。

應用域

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加和飾加行業；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業。